資料詳細

何のためのテスト?

ケネス･J.ガーゲン／著 -- ガーゲンケネス J. -- ナカニシヤ出版 -- 2023.3 -- 371.7

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所蔵

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所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
県図一般	2階閲覧室	371.7/ｶ023	0116118209	一般図書		在架

館名	所蔵数	貸出中数	貸出可能数
県図一般	1	0	1

タイトル	何のためのテスト?
書名カナ	ナンノタメノテスト
副書名	評価で変わる学校と学び
著者	ケネス･J.ガーゲン／著, シェルト･R.ギル／著, 東村知子／訳, 鮫島輝美／訳
著者カナ	ガーゲンケネス J.
出版地	京都
出版者	ナカニシヤ出版
出版者カナ	ナカニシヤシュッパン
出版年	2023.3
ページ数	8,223p
大きさ	21cm
一般件名	教育評価
内容紹介	そのテスト、本当に必要ですか? 社会構成主義の第一人者と教育学者が、これまで教育の変革の大きな障壁となってきた評価のあり方を徹底的に検証し、その代替案を示す。
NDC分類(9版)	371.7
ISBN	4-7795-1704-4
ISBN13桁	978-4-7795-1704-4
定価	¥2500