※所蔵欄の「帯出区分」が「貸出禁止」のものや、「状態」が「在架」のものは予約できません。

※奄美図書館からの取り寄せは、システムの関係上、来館しての手続きが必要です。

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

ページの先頭へ

館別所蔵

ページの先頭へ

資料詳細

ページの先頭へ

目次

1 散乱・回折の基礎

  1.1 散乱と回折を表記する基本パラメータ

  1.2 X線,電子線,中性子線

2 X線の発生と検出

  2.1 X線の発生法

  2.2 X線検出器

3 単結晶によるX線回折

  3.1 構造解析をどのように進めるか

  3.2 結晶試料の作製

  3.3 回折装置

  3.4 特殊条件下での単結晶構造解析

  3.5 構造の決定

  3.6 結晶構造の精密化

  3.7 結果の評価とまとめ方

  3.8 データベースの利用

4 粉末回折

  4.1 はじめに

  4.2 粉末X線回折装置

  4.3 回折強度の精密測定

  4.4 リートベルト法

  4.5 パターン分解

  4.6 最大エントロピー法による電子・原子核密度の決定

  4.7 非経験的構造解析

5 生体高分子の結晶構造

  5.1 構造解析をどのように進めるか

  5.2 結晶化とX線回折実験

  5.3 構造解析(位相決定)法

  5.4 分子モデルの構築

  5.5 結晶構造の精密化

  5.6 構造の解釈

6 非晶質の構造

  6.1 液体・溶液からの散乱と動径分布関数

  6.2 X線異常散乱

7 メゾスケールの構造(小角散乱)

  7.1 X線小角散乱装置

  7.2 小角散乱の一般論

  7.3 高分子,コロイド,ミセルへの応用

  7.4 生体高分子のX線回折-円筒対称パターソン関数-

  7.5 ゆらぎと小角散乱

8 中性子散乱

  8.1 中性子の発生と性質

  8.2 単結晶中性子回折による結晶構造解析

  8.3 磁気構造の決定

9 表面・薄膜構造

  9.1 電子回折

  9.2 電子顕微鏡

10 特殊実験

  10.1 微小結晶構造解析

  10.2 表面X線回折

ページの先頭へ